超高精度Mprobe 有機薄膜厚度測量儀基于光譜反射原理，即在一定的波長光波下，通過追蹤被帶有層狀結(jié)構(gòu)的基片反射和/或投射的光速來實現(xiàn)測量膜層厚度。測量薄膜厚度范圍可達1nm-1000um.一般20ms可以得到測量結(jié)果。而且超高精度Mprobe薄膜測厚儀尺寸非常小巧，8＂x　4＂x　10＂．超過精度Mprobe 有機薄膜厚度測量儀非常適合實驗室，產(chǎn)品質(zhì)量檢驗，研發(fā)使用。

超高精度MProbe 有機薄膜厚度測量儀特點：

應(yīng)用廣泛：

（1）太陽能光伏薄膜領(lǐng)域：aSi,TCO,CIGS,CdS ,CdTe

（2）LCD,FPD領(lǐng)域：ITO ,Cell Gaps,Polyamides

（3）光學(xué)薄膜領(lǐng)域：光學(xué)涂層，介質(zhì)濾波器，加硬膜，減反射膜

（4）半導(dǎo)體和電解質(zhì)領(lǐng)域：氧化物，氮化物，OLED stack

實時測量和數(shù)據(jù)分析，多層，薄，厚，獨立和不均勻?qū)?

豐富的材料庫：已經(jīng)有500多種常用的材料參數(shù)，新材料也容易添加，并能根據(jù)需要添加相應(yīng)材料特性參數(shù)-Cauchy,Tauc- Lorentz,Cody-Lorentz,EMA 等。

靈活性：鏈接方便，使用自如：不管是在實驗室獨立使用，還是在研發(fā)或者是工廠連續(xù)生產(chǎn)中不間斷在線持續(xù)監(jiān)測膜層，都能在10分鐘內(nèi)完成安裝，與電腦或是網(wǎng)絡(luò)的連接十分方便。

測量數(shù)據(jù)完整性 除了膜層的厚度，還能測量光學(xué)參數(shù)和表面平整度。

使用人性化，功能強大 一鍵式操作即可完成膜層厚度測量和分析；強大的工具-仿真能力，內(nèi)部自我糾正，多樣品測量，動態(tài)監(jiān)測和產(chǎn)品批量監(jiān)測。

如果您對這款產(chǎn)品感興趣的話，請致電：18916043666